Co/Cu çok katmanlı nanoyapılar üzerine Fe içeriğinin etkisi

















































































28
2nın fonksiyonu olarak yansımaları veren piklerin şiddetleri ölçülür. Bu pikler indislenerek kristal yapı analizi yapılabilir. Kristal yapısı belirlendikten sonra maddenin örgü sabiti gibi parametreleri tayin edilebilir.
Hazırlanan numunelerin XRD ölçümleri Balıkesir Üniversitesi Kimya Bölümünde bulunan X-ışını difraktometresi ile yapıldı. Co, Fe ve Cuın K ışımalarının gözlemlendiği bölgede olması için 2 = 400 1000 seçilerek 0.02lik adımlar halinde ölçümler alındı.
3.3.2 Taramalı Elektron mikroskobu (SEM)
Taramalı Elektron Mikroskobunda (SEM) görüntü, yüksek potansiyel ile hızlandırılmış elektronların, numune üzerine odaklanması ve bu elektron demetinin numune yüzeyinden taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli girişimler sonucu meydana gelir. Meydana gelen etkilerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sinyal güçlendiricilerinden geçirildikten sonra görüntü bir katot ışını tüpünün ekranına aktarılmasıyla elde edilir (1), (2).
Taramalı Elektron Mikroskobu nda (SEM) sıvı olmayan ve sıvı özellik taşımayan her türlü iletken olan olmayan numune incelenebilir. Her çeşit metaller, tekstiller, fiberler, plastikler polimerler, parçacıklar (kum, çakıl, polen.) incelenebilir. İletken olmayan numuneler çok ince (yaklaşık 3 /saniye) iletken malzemeyle kaplanarak incelenebilir hale getirilir.
Hazırlık aşamaları sonunda numune elektron mikroskobunda incelenmeye hazır hale gelir. Numunenin yapısına bağlı olarak değişen vakum süresi beklenir; bu süre ortalama 30dk(2).dır. Vakum süresi tamamlandıktan sonra numunenin yüzey şeklinin resmi alınabilir. SEMde madde içindeki elementlerin analizi için enerji dağılımı x-ışını spektrometresi (EDX) analizi yapılır. Burada iletken örnek üzerine elektron demeti
(1) www.mos.org/sln/sem (2) www.sem.com/analytic/sem.htm



40. SAYFAYA BENZER SAYFALAR

Kilikya bölgesinden seçilmiş antik mermer eserlerin kökeninin saptanması - Sayfa 46
3.MATERYAL VE METOD Şule DEMİRKIRAN katı organik bileşiklerin, katı organik polimerlerin, plastiklerin, organik boyar maddelerin v.s. analizlerinde de kullanılmaktadır. Mermerlerin öğütülmesiyle oluşan toz parçacıklar lamellerin üzerine yerleştirilmiştir ve 20-40 (2Ɵ) aralığında ki bakır tüplerde X-Işını kırınım aygıtıyla 40 kV ve 40mA aralığında kırınımlar elde edilmiştir. Taramalı Elektr...
Selülozun suyun kritik altı ve kritik üstü şartlarında hidrotermal dönüşümü - Sayfa 51
3.4.4 Taramalı elektron mikroskobu (SEM) Taramalı elektron mikroskobu (SEM) tamamen dijital olup bilgisayar kontrolü ile çalışmaktadır. 5 kat ile - 300.000 kat arası büyütme kapasitesine sahiptir. Tabaka film çekme ünitesi ve video-copy baskı ünitesi vardır. Elektron kaynağı tungsten filamenttir. Secondary ve Backscattered elektron dedektörüne sahiptir. Yüzey mikro yapıyı görüntüleyerek tanecik b...
YBCO(123), kalın filmlerin üretimi ve karakterizasyonu - Sayfa 46
belirlenmesi için uygun bir tekniktir. Kristal büyüklükleri doğrudan kristalin kalitesi hakkında bilgi verir. Kırınım piklerinin oldukça dar olması kristal büyüklüğünün büyük olmasını ve bu durumda kristalin kaliteli bir yapıya sahip olduğunu gösterir. Filmlerin kristal yapısını ve diğer özelliklerini belirlemek için X-ışını kırınım ölçümleri „Rigaku RadB- Dmax- II‟ bilgisayar kontrollü difraktom...

40. SAYFADAKI ANAHTAR KELIMELER

ince
yüzey
taramalı
elektron
yapı
görüntü


40. SAYFA ICERIGI

28
2nın fonksiyonu olarak yansımaları veren piklerin şiddetleri ölçülür. Bu pikler indislenerek kristal yapı analizi yapılabilir. Kristal yapısı belirlendikten sonra maddenin örgü sabiti gibi parametreleri tayin edilebilir.
Hazırlanan numunelerin XRD ölçümleri Balıkesir Üniversitesi Kimya Bölümünde bulunan X-ışını difraktometresi ile yapıldı. Co, Fe ve Cuın K ışımalarının gözlemlendiği bölgede olması için 2 = 400 1000 seçilerek 0.02lik adımlar halinde ölçümler alındı.
3.3.2 Taramalı Elektron mikroskobu (SEM)
Taramalı Elektron Mikroskobunda (SEM) görüntü, yüksek potansiyel ile hızlandırılmış elektronların, numune üzerine odaklanması ve bu elektron demetinin numune yüzeyinden taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli girişimler sonucu meydana gelir. Meydana gelen etkilerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sinyal güçlendiricilerinden geçirildikten sonra görüntü bir katot ışını tüpünün ekranına aktarılmasıyla elde edilir (1), (2).
Taramalı Elektron Mikroskobu nda (SEM) sıvı olmayan ve sıvı özellik taşımayan her türlü iletken olan olmayan numune incelenebilir. Her çeşit metaller, tekstiller, fiberler, plastikler polimerler, parçacıklar (kum, çakıl, polen.) incelenebilir. İletken olmayan numuneler çok ince (yaklaşık 3 /saniye) iletken malzemeyle kaplanarak incelenebilir hale getirilir.
Hazırlık aşamaları sonunda numune elektron mikroskobunda incelenmeye hazır hale gelir. Numunenin yapısına bağlı olarak değişen vakum süresi beklenir; bu süre ortalama 30dk(2).dır. Vakum süresi tamamlandıktan sonra numunenin yüzey şeklinin resmi alınabilir. SEMde madde içindeki elementlerin analizi için enerji dağılımı x-ışını spektrometresi (EDX) analizi yapılır. Burada iletken örnek üzerine elektron demeti
(1) www.mos.org/sln/sem (2) www.sem.com/analytic/sem.htm

İlgili Kaynaklar







single.php